Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2008

Հատոր:

1

Համար:

1

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Համատեղ հեղինակները:

Yerevan State University (YSU)

Ծածկոյթ:

104-107

Ամփոփում:

Noise properties of the structures containing a layer of porous silicon (PS), at adsorption of active gases were investigated by us for PS with porosity of 50% [1, 2]. The purpose of the present work was an experimental research of low-frequency noise in layers of PS with porosity of 73% in dry air, in a mix dry air + 0.4% CO and in a mix dry air + 2% CO, as well as the determination of the noise parameter and parameter in the frequency dependence of the noise voltage spectral density from experimental data.

Բովանդակութիւն:

Հրատարակութեան վայրը:

Թուայնացման հովանաւորը:

Ստեղծման ամսաթիւը:

2008-04-26

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23176

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան