Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2014

Հատոր:

7

Համար:

2

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Համատեղ հեղինակները:

Department of Physics, Faculty of Science, Arak University, Arak, 38156-8-8349, Iran

Ծածկոյթ:

87-92

Ամփոփում:

Elastic constants of zinc oxide thin films have been determined using sin2? method. Surface morphology and crystalline structure of zinc oxide were examined, using atomic force microscope (AFM) and field emission scanning electron microscope (FESEM). The different planes and lattice parameters of ZnO films were obtained by High Temperature X-Ray Diffraction (HT-XRD) method. The minimum stress and residual stress were found to be 1.27±4.88 Mpa and4.62±0.23 Mpa for (101) and (110) different atomic planes.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2014-05-26

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23373

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան