Նիւթ

Վերնագիր: ELECTRON MOBILITY VARIANCE IN SEMICONDUCTORS: THE VARIANCE APPROACH

Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2011

Հատոր:

4

Համար:

1

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:


Ծածկոյթ:

62-73

Ամփոփում:

The statistical non-triviality of current carrier mobility fluctuations in non-degenerate semiconductors is studied in the frames of the newly developed variance approach theory. Expressions for electron mobility variances conditioned by the fluctuations of conduction band energy level occupancy and electron quasi-momentum relaxation time are obtained and analyzed. It is established that the fluctuations of the quasi-momentum relaxation time cannot be a “self-reliant” source of current 1/f-noise. A new and more general expression for Hooge’s coefficient is proposed. The newly proposed approach makes possible to investigate properties of spectral density of noises in a novel way incorporating potential mechanisms of fluctuations origin in semiconductors.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2011-06-20

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23294

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Նիւթին հաւաքածոները:

Վերջին անգամ ձեւափոխուած է:

Dec 13, 2023

Մեր գրադարանին մէջ է սկսեալ:

Feb 27, 2020

Նիւթին բովանդակութեան հարուածներուն քանակը:

21

Նիւթին բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/26015

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը RDF ձեւաչափով:

RDF

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը OAI-PMH ձեւաչափով։

OAI-PMH

Հրատարակութեան անունը Թուական
ELECTRON MOBILITY VARIANCE IN SEMICONDUCTORS: THE VARIANCE APPROACH Dec 13, 2023

Այս էջը կ'օգտագործէ 'cookie-ներ'։ Յաւելեալ տեղեկատուութիւն