Object

Title: Laser Profilometer with Micron Spatial Resolution

Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2017

Հատոր:

10

Համար:

3

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:


Համատեղ հեղինակները:

National Institute of Metrology, Yerevan, Armenia

Ծածկոյթ:

99-103

Ամփոփում:

A new method of remote measurement of the roughness of a surface based on a non-linear optical profilometer is suggested and investigated. It is shown that for the spectral resolution of the spectrograph of 0.2 μm the linear resolution is 18 microns.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2017-10-06

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23481

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Object collections:

Last modified:

Dec 13, 2023

In our library since:

Feb 27, 2020

Number of object content hits:

26

All available object's versions:

https://arar.sci.am/publication/26242

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Edition name Date
Laser Profilometer with Micron Spatial Resolution Dec 13, 2023

This page uses 'cookies'. More information