Նիւթ

Վերնագիր: Laser Profilometer with Micron Spatial Resolution

Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2017

Հատոր:

10

Համար:

3

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:


Համատեղ հեղինակները:

National Institute of Metrology, Yerevan, Armenia

Ծածկոյթ:

99-103

Ամփոփում:

A new method of remote measurement of the roughness of a surface based on a non-linear optical profilometer is suggested and investigated. It is shown that for the spectral resolution of the spectrograph of 0.2 μm the linear resolution is 18 microns.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2017-10-06

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23481

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Նիւթին հաւաքածոները:

Վերջին անգամ ձեւափոխուած է:

Dec 13, 2023

Մեր գրադարանին մէջ է սկսեալ:

Feb 27, 2020

Նիւթին բովանդակութեան հարուածներուն քանակը:

33

Նիւթին բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/26242

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը RDF ձեւաչափով:

RDF

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը OAI-PMH ձեւաչափով։

OAI-PMH

Հրատարակութեան անունը Թուական
Laser Profilometer with Micron Spatial Resolution Dec 13, 2023

Այս էջը կ'օգտագործէ 'cookie-ներ'։ Յաւելեալ տեղեկատուութիւն