Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2017

Հատոր:

10

Համար:

3

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Համատեղ հեղինակները:

National Institute of Metrology, Yerevan, Armenia

Ծածկոյթ:

99-103

Ամփոփում:

A new method of remote measurement of the roughness of a surface based on a non-linear optical profilometer is suggested and investigated. It is shown that for the spectral resolution of the spectrograph of 0.2 μm the linear resolution is 18 microns.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2017-10-06

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23481

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան