Հրապարակման մանրամասներ:
Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:
Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես
Հրապարակման ամսաթիվ:
Հատոր:
Համար:
ISSN:
Պաշտոնական URL:
Վերնագիր:
Laser Profilometer with Micron Spatial Resolution
Ստեղծողը:
A. O. Vardanyan ; S. R. Melikyan ; K. A. Movsesyan ; D. L. Oganesyan ; E. V. Chakhoyan
Համատեղ հեղինակները:
National Institute of Metrology, Yerevan, Armenia
Խորագիր:
Physics ; Electronic structure and electrical properties of surfaces ; Instruments, apparatus, components common to several branches of physics ; Optics
Ծածկույթ:
Ամփոփում:
A new method of remote measurement of the roughness of a surface based on a non-linear optical profilometer is suggested and investigated. It is shown that for the spectral resolution of the spectrograph of 0.2 μm the linear resolution is 18 microns.