Ցույց տուր կառուցվածքը

Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիվ:

2017

Հատոր:

10

Համար:

3

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:


Վերնագիր:

Laser Profilometer with Micron Spatial Resolution

Ստեղծողը:

A. O. Vardanyan ; S. R. Melikyan ; K. A. Movsesyan ; D. L. Oganesyan ; E. V. Chakhoyan

Համատեղ հեղինակները:

National Institute of Metrology, Yerevan, Armenia

Խորագիր:

Physics ; Electronic structure and electrical properties of surfaces ; Instruments, apparatus, components common to several branches of physics ; Optics

Ծածկույթ:

99-103

Ամփոփում:

A new method of remote measurement of the roughness of a surface based on a non-linear optical profilometer is suggested and investigated. It is shown that for the spectral resolution of the spectrograph of 0.2 μm the linear resolution is 18 microns.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2017-10-06

Տեսակ:

Հոդված

Ձևաչափ:

pdf

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան