Օբյեկտ

Վերնագիր: A PROOF OF PRINCIPLE STUDY OF A NOVEL SEMICONDUCTOR-BASED CHARGE PARTICLE IDENTIFICATION TELESCOPE

Ստեղծողը:

Pourus Mehta

Տեսակ:

Հոդված

Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիվ:

2012

Հատոր:

5

Համար:

1

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:


Ծածկույթ:

35-42

Ամփոփում:

Charge particle telescopes are the primary equipment for charge particle identification spectroscopy applications in nuclear physics. It is proposed to fabricate the detector over a conventional silicon PIN diode detector in a vertical fashion using standard bipolar technology available with Bharat Electronics Ltd (BEL), Bangalore. As a part of this development, the first batch of proto-type Composite Charge Particle Identification Telescope (CCPIT) detectors have been successfully realized. This paper presents a comprehensive perspective on the design, fabrication and characterization of the first proto- types of silicon based CCPITs. Process and Device simulations in Technology Computer Aided Design (TCAD) were employed to extract analytical values for its performance parameters. Dynamic characterization through Alpha particle spectroscopy measurements has been performed to extract the energy resolution of the CCPIT detector.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2012-04-17

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23316

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Օբյեկտի հավաքածուներ:

Վերջին անգամ ձևափոխված:

Dec 13, 2023

Մեր գրադարանում է սկսած:

Feb 27, 2020

Օբյեկտի բովանդակության հարվածների քանակ:

20

Օբյեկտի բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/26045

Ցույց տուր նկարագրությունը RDF ձևաչափով:

RDF

Ցույց տուր նկարագրությունը OAI-PMH ձևաչափով։

OAI-PMH

Հրատարակության անուն Ամսաթիվ
A PROOF OF PRINCIPLE STUDY OF A NOVEL SEMICONDUCTOR-BASED CHARGE PARTICLE IDENTIFICATION TELESCOPE Dec 13, 2023

Այս էջը օգտագործում է 'cookie-ներ'։ Ավելի տեղեկատվություն