Object

Title: Generic bist architecture for memories

Publication Details:

Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀԱՊՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and NPUA: Technical Sciences

Date of publication:

2021

Volume:

74

Number:

2

ISSN:

0002-306X

Official URL:


Additional Information:

Բաբայան Ա. Վ., Աբգարյան Գ. Ա., Бабаян А. В., Абгарян Г. А.

Other title:

Ընդհանուր ներդրված թեստավորման ճարտարապետություն հիշողությունների համար ; Общая архитектура встроенного самотестирования для памяти

Contributor(s):

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Coverage:

204-209

Abstract:

A generic Built-In Self-Test (BIST) architecture which is suitable for different types of well-known memories is proposed. This architecture consists of different components which are responsible for BIST features as operation execution and algorithm storage with a defined format. The main components of the proposed architecture are described. This architecture reduces the average test time by 0.85…3.21% (depends on the memory size).
Առաջարկվում է ներդրված թեստավորման համակարգ, որը համատեղելի է տարբեր տիպի հիշողությունների համար։ Ճարտարապետությունը կազմված է տարբեր ենթակառուցվածքներից, որոնք պատասխանատու են թեստավորման իրականացման համար, ինչպիսիք են` օպերացիաների կատարումը և թեստավորող ալգորիթմի պահպանումը որոշակի ֆորմատով։ Ներկայացված են ճարտարապետության հիմնական բաղադրիչները։ Այս համակարգը նվազեցնում է թեստավորման ժամանակը միջինում 0.85-3.21%-ով (կախված հիշողության ծավալից)։
Предлагается общая архитектура встроенного самотестирования, которая подходит для различных типов хорошо известных видов памяти. Эта архитектура состоит из различных компонентов, которые отвечают за функции самотестирования, такие как выполнение операций и хранение алгоритмов в определенном формате. Описаны основные компоненты предлагаемой архитектуры. Данная архитектура снижает среднее время тестирования на 0,85...3,21% (в зависимости от объема памяти).

Place of publishing:

Երևան

Publisher:

«Պոլիտեխնիկ» տպ.

Format:

pdf

Identifier:

oai:arar.sci.am:277009

Call number:

АЖ 413

Digitization:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Object collections:

Last modified:

Oct 11, 2024

In our library since:

Aug 30, 2021

Number of object content hits:

39

All available object's versions:

https://arar.sci.am/publication/302510

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

This page uses 'cookies'. More information