Publication Details:
Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Journal or Publication Title:
Date of publication:
Volume:
Number:
ISSN:
Official URL:
Additional Information:
Բաբայան Ա. Վ., Աբգարյան Գ. Ա., Бабаян А. В., Абгарян Г. А.
Title:
Generic bist architecture for memories
Other title:
Ընդհանուր ներդրված թեստավորման ճարտարապետություն հիշողությունների համար ; Общая архитектура встроенного самотестирования для памяти
Creator:
Babayan, A. V. ; Abgaryan, G. A.
Contributor(s):
Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Subject:
Uncontrolled Keywords:
embedded memory BIST ; memory fault ; test algorithm ; System-on-Chip
Coverage:
Abstract:
A generic Built-In Self-Test (BIST) architecture which is suitable for different types of well-known memories is proposed. This architecture consists of different components which are responsible for BIST features as operation execution and algorithm storage with a defined format. The main components of the proposed architecture are described. This architecture reduces the average test time by 0.85…3.21% (depends on the memory size).
Առաջարկվում է ներդրված թեստավորման համակարգ, որը համատեղելի է տարբեր տիպի հիշողությունների համար։ Ճարտարապետությունը կազմված է տարբեր ենթակառուցվածքներից, որոնք պատասխանատու են թեստավորման իրականացման համար, ինչպիսիք են` օպերացիաների կատարումը և թեստավորող ալգորիթմի պահպանումը որոշակի ֆորմատով։ Ներկայացված են ճարտարապետության հիմնական բաղադրիչները։ Այս համակարգը նվազեցնում է թեստավորման ժամանակը միջինում 0.85-3.21%-ով (կախված հիշողության ծավալից)։
Предлагается общая архитектура встроенного самотестирования, которая подходит для различных типов хорошо известных видов памяти. Эта архитектура состоит из различных компонентов, которые отвечают за функции самотестирования, такие как выполнение операций и хранение алгоритмов в определенном формате. Описаны основные компоненты предлагаемой архитектуры. Данная архитектура снижает среднее время тестирования на 0,85...3,21% (в зависимости от объема памяти).
Place of publishing:
Երևան
Publisher:
Type:
Format:
Call number:
Digitization:
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան