Characterization and Optical Absorption Properties of Plasmonic Nanostructured Thin Films

A. Ranjgar; R. Norouzi; A. Zolanvari; H. Sadeghi

Download

Title: Characterization and Optical Absorption Properties of Plasmonic Nanostructured Thin Films

Հատոր:

Համար:

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Համատեղ հեղինակները:

Department of Physics, Faculty of Science, Arak University, Arak, 38156-8-8349, Iran

Ծածկույթ:

198-203

Ամփոփում:

Ag (Au)/SiO2 nanostructured thin films were fabricated on n-type silicon substrates by Radio Frequency (RF) magnetron sputtering technique. Crystalline, surface topography and optical properties of the prepared films were analyzed using X-ray diffractometry (XRD) technique, Atomic Force Microscopy (AFM) and UV–visible spectrophotometry, respectively. Optical absorption spectrum of the Ag/SiO2 thin films showed one surface plasmon resonance (SPR) absorption peak located at 310 nm relating to silver nanoparticles while the SPR peak in Au/SiO2 sample experienced a redshift around 450 nm.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2013-10-03

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23363

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Subject and keywords:

Physics Electronic structure and electrical properties of surfaces Optics Materials science Electronic and magnetic devices; microelectronics

Object collections:

Digital Library > Հոդվածներ

Last modified:

Dec 13, 2023

In our library since:

Feb 27, 2020

Number of object content hits:

All available object's versions:

https://arar.sci.am/publication/26101

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Edition name	Date
Characterization and Optical Absorption Properties of Plasmonic Nanostructured Thin Films	Dec 13, 2023

Object

Title: Characterization and Optical Absorption Properties of Plasmonic Nanostructured Thin Films

Ստեղծողը:

Տեսակ:

Հրապարակման մանրամասներ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Հրապարակման ամսաթիվ: