Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2013

Հատոր:

6

Համար:

4

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Համատեղ հեղինակները:

Department of Physics, Faculty of Science, Arak University, Arak, 38156-8-8349, Iran

Ծածկոյթ:

198-203

Ամփոփում:

Ag (Au)/SiO2 nanostructured thin films were fabricated on n-type silicon substrates by Radio Frequency (RF) magnetron sputtering technique. Crystalline, surface topography and optical properties of the prepared films were analyzed using X-ray diffractometry (XRD) technique, Atomic Force Microscopy (AFM) and UV–visible spectrophotometry, respectively. Optical absorption spectrum of the Ag/SiO2 thin films showed one surface plasmon resonance (SPR) absorption peak located at 310 nm relating to silver nanoparticles while the SPR peak in Au/SiO2 sample experienced a redshift around 450 nm.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2013-10-03

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23363

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան