Հրապարակման մանրամասներ:
Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:
Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես
Հրապարակման ամսաթիվ:
Հատոր:
Համար:
ISSN:
Պաշտոնական URL:
Վերնագիր:
Characterization and Optical Absorption Properties of Plasmonic Nanostructured Thin Films
Ստեղծողը:
A. Ranjgar ; R. Norouzi ; A. Zolanvari ; H. Sadeghi
Համատեղ հեղինակները:
Department of Physics, Faculty of Science, Arak University, Arak, 38156-8-8349, Iran
Խորագիր:
Physics ; Electronic structure and electrical properties of surfaces ; Optics ; Materials science ; Electronic and magnetic devices; microelectronics
Ծածկույթ:
Ամփոփում:
Ag (Au)/SiO2 nanostructured thin films were fabricated on n-type silicon substrates by Radio Frequency (RF) magnetron sputtering technique. Crystalline, surface topography and optical properties of the prepared films were analyzed using X-ray diffractometry (XRD) technique, Atomic Force Microscopy (AFM) and UV–visible spectrophotometry, respectively. Optical absorption spectrum of the Ag/SiO2 thin films showed one surface plasmon resonance (SPR) absorption peak located at 310 nm relating to silver nanoparticles while the SPR peak in Au/SiO2 sample experienced a redshift around 450 nm.