Հրապարակման մանրամասներ:
Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:
Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես
Հրապարակման ամսաթիւ:
Հատոր:
Համար:
ISSN:
Պաշտոնական URL:
Վերնագիր:
X-Ray Elastic Constants of ZnO Thin Films
Ստեղծողը:
Najmeh Ayoqi ; Abdolali Zolanvari
Համատեղ հեղինակները:
Department of Physics, Faculty of Science, Arak University, Arak, 38156-8-8349, Iran
Խորագիր:
Physics ; Electronic structure and electrical properties of surfaces
Ծածկոյթ:
Ամփոփում:
Elastic constants of zinc oxide thin films have been determined using sin2? method. Surface morphology and crystalline structure of zinc oxide were examined, using atomic force microscope (AFM) and field emission scanning electron microscope (FESEM). The different planes and lattice parameters of ZnO films were obtained by High Temperature X-Ray Diffraction (HT-XRD) method. The minimum stress and residual stress were found to be 1.27±4.88 Mpa and4.62±0.23 Mpa for (101) and (110) different atomic planes.