Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիվ:

2009

Հատոր:

2

Համար:

4

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Ծածկույթ:

295-301

Ամփոփում:

The 5 to 150 nm thicknesses of Fe layers have been deposited by evaporation method onto Si substrates. Magnetic properties of samples are measured by using Magnetic Force Microscopy (MFM) and Alternating Gradient Force Magnetometry (AGFM). Structural and magnetic properties of samples have been reported from domains structure in MFM images as well as hysteresis loops in AGFM results. The domains width in Fe samples with 100 nm thickness were estimated about 2–4 μm. The XRD patterns are also show the formation of β-FeSi2 phase after annealing up to 700°C. The calculated effective anisotropy for samples with different thicknesses also shows oscillations with increasing Fe layer thickness.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2009

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23251

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան