Հրապարակման մանրամասներ:

Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Հրապարակման ամսաթիվ:

2020

Հատոր:

55

Համար:

2

ISSN:

0002-3035

Պաշտոնական URL:

Լրացուցիչ տեղեկություն:

Ալեկսանդրով Պ. Ա., Եֆիմենկո Ե. Վ., Alexandrov P. A., Efimenko E. V.

Այլ վերնագիր:

Էլեկտրոնային բաղադրիչների կայունությունը ռադիացիայի ազդեցության նկատմամբ ; On the Resistance of Electronic Components To the Action of Radiation

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)

Ծածկույթ:

259–270

Ամփոփում:

Կատարվել է ինտեգրալային սխեմաների վրա ռադիացիոն ճառագայթման ազդեցության վերլուծություն: Դիտարկվել են ճառագայթման նկատմամբ դիմակայուն պասիվ միկրոսխեմաների հնարավոր կառուցվածքային տարբերակները: Բերվել է ըստ տարրերի պահեստային և ոչ պահեստային տարբեր հաստատուն կառուցվածքով միկրոսխեմաների դիմակայունության անուղղակի չափման մեթոդ։ Ներկայացվել է ճառագայթումից հետո միկրոսխեմաների խզման ու կարճ միացման դեպքերում թեստավորման եղանակ։ The effect of radiation exposure on integrated circuits is analyzed. The methods of constructing passively fault-tolerant radiated microcircuits are studied. A review of a method for indirectly measuring the fault tolerance of such microcircuits constructed using various constant element-by-element redundancy and without redundancy is given. A method for testing microcircuits for open circuit and short circuit after irradiation is considered.

Հրատարակիչ:

Հայաստանի ԳԱԱ

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:167895

Դասիչ:

АЖ 415

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան