Publication Details:

Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Date of publication:

2020

Volume:

55

Number:

2

ISSN:

0002-3035

Official URL:

Additional Information:

Ալեկսանդրով Պ. Ա., Եֆիմենկո Ե. Վ., Alexandrov P. A., Efimenko E. V.

Other title:

Էլեկտրոնային բաղադրիչների կայունությունը ռադիացիայի ազդեցության նկատմամբ ; On the Resistance of Electronic Components To the Action of Radiation

Contributor(s):

Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)

Coverage:

259–270

Abstract:

Կատարվել է ինտեգրալային սխեմաների վրա ռադիացիոն ճառագայթման ազդեցության վերլուծություն: Դիտարկվել են ճառագայթման նկատմամբ դիմակայուն պասիվ միկրոսխեմաների հնարավոր կառուցվածքային տարբերակները: Բերվել է ըստ տարրերի պահեստային և ոչ պահեստային տարբեր հաստատուն կառուցվածքով միկրոսխեմաների դիմակայունության անուղղակի չափման մեթոդ։ Ներկայացվել է ճառագայթումից հետո միկրոսխեմաների խզման ու կարճ միացման դեպքերում թեստավորման եղանակ։ The effect of radiation exposure on integrated circuits is analyzed. The methods of constructing passively fault-tolerant radiated microcircuits are studied. A review of a method for indirectly measuring the fault tolerance of such microcircuits constructed using various constant element-by-element redundancy and without redundancy is given. A method for testing microcircuits for open circuit and short circuit after irradiation is considered.

Publisher:

Հայաստանի ԳԱԱ

Format:

pdf

Identifier:

oai:arar.sci.am:167895

Call number:

АЖ 415

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան