Հրապարակման մանրամասներ:
Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:
ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics
Հրապարակման ամսաթիվ:
Հատոր:
Համար:
ISSN:
Պաշտոնական URL:
Լրացուցիչ տեղեկություն:
Ալեկսանդրով Պ. Ա., Եֆիմենկո Ե. Վ., Alexandrov P. A., Efimenko E. V.
Վերնագիր:
О стойкости электронных компонентов к действию радиации
Այլ վերնագիր:
Էլեկտրոնային բաղադրիչների կայունությունը ռադիացիայի ազդեցության նկատմամբ ; On the Resistance of Electronic Components To the Action of Radiation
Ստեղծողը:
Александров, П. А. ; Ефименко, Е.В.
Աջակից(ներ):
Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)
Խորագիր:
Ծածկույթ:
Ամփոփում:
Կատարվել է ինտեգրալային սխեմաների վրա ռադիացիոն ճառագայթման ազդեցության վերլուծություն: Դիտարկվել են ճառագայթման նկատմամբ դիմակայուն պասիվ միկրոսխեմաների հնարավոր կառուցվածքային տարբերակները: Բերվել է ըստ տարրերի պահեստային և ոչ պահեստային տարբեր հաստատուն կառուցվածքով միկրոսխեմաների դիմակայունության անուղղակի չափման մեթոդ։ Ներկայացվել է ճառագայթումից հետո միկրոսխեմաների խզման ու կարճ միացման դեպքերում թեստավորման եղանակ։ The effect of radiation exposure on integrated circuits is analyzed. The methods of constructing passively fault-tolerant radiated microcircuits are studied. A review of a method for indirectly measuring the fault tolerance of such microcircuits constructed using various constant element-by-element redundancy and without redundancy is given. A method for testing microcircuits for open circuit and short circuit after irradiation is considered.