Publication Details:

Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ և ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Date of publication:

2005

Volume:

58

Number:

1

ISSN:

0002-306X

Official URL:

Other title:

Նյութերում անկատարությունների պատկերների ուսումնասիրության նոր ռենտգենոինտերֆերոմետրիկ մեթոդ; A new X-ray interferometric method for investigation of imperfection images in materials

Contributor(s):

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Coverage:

54-58

Abstract:

На основе кратных рентгеновских интерферометров предложен и опробован способ исследования полей деформации кристаллов. Показано, что двукратный рентгеновский интерферометр позволяет выявить линии сегрегации, полосы смещения и муаровые картины,обусловленные несовершенствами исследуемых кристаллических материалов. Ռենտգենյան բազմապատիկ ինտերֆերոմետրերի հիման վրա առաջարկվել և փորձարկվել է բյուրեղների մեջ դեֆորմացիոն դաշտերի ուսումնասիրության նոր եղանակ: Ցույց է տրվել, որ կրկնապատիկ ռենտգենյան ինտերֆերոմետրը թույլ է տալիս բացահայտել ուսումնասիրվող բյուրեղական նյութերի անկատարելություններով պայմանավորված անմիասեռության և շեղման գծերը, մուարի պատկերները: A method for investigation of deformation fields in crystals based on multiple X-ray interferometers is suggested and tested. It is shown that a double X-ray interferometer permits to reveal segregation lines, shift bands and Moire patterns arising due to imperfections of crystalline materials under investigation.

Place of publishing:

Երևան

Publisher:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Date created:

2005-04-13

Format:

pdf

Identifier:

oai:arar.sci.am:32226

Call number:

АЖ 413

Digitization:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան