Հրապարակման մանրամասներ:
Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:
Հրապարակման ամսաթիվ:
Հատոր:
Համար:
ISSN:
Պաշտոնական URL:
Վերնագիր:
Новый рентгеноинтерферометрический метод исследования изображений несовершенств в материалах
Այլ վերնագիր:
Ստեղծողը:
Աջակից(ներ):
Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Խորագիր:
Չվերահսկվող բանալի բառեր:
Դրմեյան Հ. Ռ. ; Drmeyan H. R. ; муаровые топограммы ; двукратный интерферометр ; поле деформации кристаллов
Ծածկույթ:
Ամփոփում:
На основе кратных рентгеновских интерферометров предложен и опробован способ исследования полей деформации кристаллов. Показано, что двукратный рентгеновский интерферометр позволяет выявить линии сегрегации, полосы смещения и муаровые картины,обусловленные несовершенствами исследуемых кристаллических материалов. Ռենտգենյան բազմապատիկ ինտերֆերոմետրերի հիման վրա առաջարկվել և փորձարկվել է բյուրեղների մեջ դեֆորմացիոն դաշտերի ուսումնասիրության նոր եղանակ: Ցույց է տրվել, որ կրկնապատիկ ռենտգենյան ինտերֆերոմետրը թույլ է տալիս բացահայտել ուսումնասիրվող բյուրեղական նյութերի անկատարելություններով պայմանավորված անմիասեռության և շեղման գծերը, մուարի պատկերները: A method for investigation of deformation fields in crystals based on multiple X-ray interferometers is suggested and tested. It is shown that a double X-ray interferometer permits to reveal segregation lines, shift bands and Moire patterns arising due to imperfections of crystalline materials under investigation.
Հրատարակության վայրը:
Երևան
Հրատարակիչ:
Ստեղծման ամսաթիվը:
Տեսակ:
Ձևաչափ:
Դասիչ:
Թվայնացում:
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան