Նիւթ

Վերնագիր: Efficient Implementation of Physical Addressing for Testing, Diagnosis and Repair of Embedded SRAMs for Yield Improvement

Ստեղծողը:

K. K. Aleksanyan

Տեսակ:

Հոդված

Հրապարակման մանրամասներ:

"ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ" հանդեսը հիմնադրվել է 1944թ.: Լույս է տեսնում տարին 4 անգամ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ = Доклады НАН РА = Reports NAS RA

Հրապարակման ամսաթիւ:

2006

Հատոր:

106

Համար:

1

ISSN:

0321-1339

Պաշտոնական URL:


Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

կապին հետեւելուն համար սեղմէ հոս

Այլ վերնագիր:

Ֆիզիկական հասցեավորման արդյունավետ իրականացում հիշողության սխեմաների անսարքությունների հայտնաբերման, ախտորոշման և վերանորոգման միջոցով օգտակար ելքի մեծացման համար / Կ. Կ. Ալեքսանյան։ Эффективная реализация физической адресации для тестирования, диагностики и восстановления схем памяти для увеличения выхода годных изделий / К. К. Алексанян.

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ.՝ Վ. Հ․ Համբարձումյան (1944-1959) ; Մ․ Մ․ Ջրբաշյան (1960-1965) ; Ա․ Գ․ Նազարով (1966-1983) ; Պատ․ խմբ․ տեղակալ՝ Վ․ Հ․ Ղազարյան (1983-1986) ; Պատ․ խմբ․՝ Դ․ Մ․ Սեդրակյան (1987-1999) ; Գլխավոր խմբ․՝ Ս․ Ա․ Համբարձումյան (2000-2004) ; Վ․ Ս․ Զաքարյան (2005-2018) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (2018-)

Ծածկոյթ:

31-40

Ամփոփում:

Աշխատանքում լայնորեն կիրառվող տրամաբանականի փոխարեն առաջարկվում է ֆիզիկական հասցեավորում օգտագործող, ինքնատեստավորվող և ինքնավերանորոգվող (ԻՏևՎ) հիշողության համակարգերի (ԻՀՀ) ավտոմատ գեներացիայի արդյունավետ մեթոդ: Միջոց է ներդրվում ԻՀՀ-ում, որպեսզի տեստավորող, ախտորոշող և վերանորոգող սխեմաները հաշվի առնեն հիշողության ֆիզիկական կառուցվածքը և դրանով նկատելիորեն մեծացնեն ԻՀՀ-ի արտադրության օգտակար ելքը: Նույն միջոցը կարող է օգտագործվել նաև հետագա ախտորոշման և վրիպազերցման ժամանակ: Առաջարկվող մեթոդը իրականացվել և ստուգվել է մի քանի ԻՀՀ կոմպիլյատորների համար: Փորձնական արդյունքները ցույց են տվել արտադրության օգտակար ելքի նկատելի աճ` ապարատային միջոցների փոքր աճի դեպքում: Предлагается эффективный способ автоматической генерации самотестирующих и восстанавливающих (СТИВ) систем памяти (ССП) с физической адресацией вместо широко используемой логической. Средство внедрено в ССП для тестирующих, диагностирующих и восстанавливающих схем с тем, чтобы учитывать физическую структуру схем памяти и таким образом значительно улучшить выход годных изделий ССП. То же самое средство можно будет использовать для дальнейшей отладки и диагностики. Предлагаемый метод был реализован и проверен для нескольких компиляторов памяти. Экспериментальные результаты показали значительное увеличение выхода годных изделий с небольшим увеличением аппаратных средств.

Հրատարակութեան վայրը:

Երևան

Հրատարակիչ:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2006-03-15

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:46169

Դասիչ:

АЖ 144

Թուայնացում:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Նիւթին հաւաքածոները:

Վերջին անգամ ձեւափոխուած է:

Oct 11, 2024

Մեր գրադարանին մէջ է սկսեալ:

Mar 5, 2020

Նիւթին բովանդակութեան հարուածներուն քանակը:

40

Նիւթին բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/51473

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը RDF ձեւաչափով:

RDF

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը OAI-PMH ձեւաչափով։

OAI-PMH

Օբյեկտի տեսակ՝

Նման

Այս էջը կ'օգտագործէ 'cookie-ներ'։ Յաւելեալ տեղեկատուութիւն