Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors

Melikyan, N. V.; Danielyan, A. M.; Manukyan, A. G.; Galstyan, A. A.

Ներբեռնել

Վերնագիր: Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors

Պաշտոնական URL:

www.bulletin.am

Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

Մելիքյան Ն․ Վ․, Դանիելյան Ա․ Մ․, Մանուկյան Ա․ Գ․, Գալստյան Ա․ Ա․, Меликян Н. В., Даниелян А. М., Манукян А. Г., Галстян А. А.

Այլ վերնագիր:

Սխալի հայտնաբերման և ուղղման ալգորիթմներով ստացված սխեմաների պարամետրերի ուսումնասիրություն ; Изучение параметров схем полученных с алгоритмами обнаружения и исправления ошибки

Ծածկոյթ:

39-44

Ամփոփում:

Software errors and constantly reducing technologies have paved the way for the creation of software algorithms for detecting and correcting errors in embedded systems. The quality of the algorithm for detecting and correcting errors in such systems depends to a great extent on the behavioral description of this algorithm. Each algorithm for detecting and correcting errors is more efficient than the other. In this paper, two of the most common detector algorithms were studied, the circuit described by these algorithms was synthesized by SAED 14 and SAED 32 nanometer libraries and the parameters were evaluated.
Программные ошибки и постоянно уменьшающиеся технологии проложили путь к созданию алгоритмов обнаружения и исправления программных ошибок во встроенных системах. Степень сложности алгоритма обнаружения и исправления ошибок в таких системах зависит от его поведенческого описания. В данной работе были изучены два из наиболее распространенных алгоритмов детектирования, проведено исследование схем с описанием этих алгоритмов, синтезированных для технологий САУД 14нм и САУД 32нм, оценка и сравнение параметров.

Հրատարակութեան վայրը:

Շուշի

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:428832

Խորագիր և բանալի բառեր:

Electronics integrated circuit device description language codeword

Նիւթին հաւաքածոները:

Digital Library > Յօդուածներ

Վերջին անգամ ձեւափոխուած է:

Apr 8, 2026

Մեր գրադարանին մէջ է սկսեալ:

Apr 7, 2026

Նիւթին բովանդակութեան հարուածներուն քանակը:

Նիւթին բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/461947

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը RDF ձեւաչափով:

RDF

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը OAI-PMH ձեւաչափով։

OAI-PMH

Տեղեկագիր բարձր տեխնոլոգիաների=Известия высоких технологий=Bulletin of high technology

Հրատարակութեան անունը	Թուական
Melikyan, N. V., Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors	Apr 8, 2026

Նիւթ

Վերնագիր: Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors

Ստեղծողը:

Տեսակ:

Հրապարակման մանրամասներ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Հրապարակման ամսաթիւ:

Համար:

ISSN:

Պաշտոնական URL:

Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

Այլ վերնագիր:

Ծածկոյթ:

Ամփոփում:

Հրատարակութեան վայրը:

Ձեւաչափ:

Նոյնացուցիչ:

Խորագիր և բանալի բառեր:

Նիւթին հաւաքածոները:

Վերջին անգամ ձեւափոխուած է:

Մեր գրադարանին մէջ է սկսեալ:

Նիւթին բովանդակութեան հարուածներուն քանակը:

Նիւթին բոլոր հասանելի տարբերակները:

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը RDF ձեւաչափով:

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը OAI-PMH ձեւաչափով։

Օբյեկտի տեսակ՝

Նման

Կապին մանրամասները

Հասցէ

Հեռաձայն

Ել-նամակ

Այցելեցէք մեզ։