Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors

Melikyan, N. V.; Danielyan, A. M.; Manukyan, A. G.; Galstyan, A. A.

Ներբեռնել

Վերնագիր: Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors

Պաշտոնական URL:

www.bulletin.am

Լրացուցիչ տեղեկություն:

Մելիքյան Ն․ Վ․, Դանիելյան Ա․ Մ․, Մանուկյան Ա․ Գ․, Գալստյան Ա․ Ա․, Меликян Н. В., Даниелян А. М., Манукян А. Г., Галстян А. А.

Այլ վերնագիր:

Սխալի հայտնաբերման և ուղղման ալգորիթմներով ստացված սխեմաների պարամետրերի ուսումնասիրություն ; Изучение параметров схем полученных с алгоритмами обнаружения и исправления ошибки

Ծածկույթ:

39-44

Ամփոփում:

Software errors and constantly reducing technologies have paved the way for the creation of software algorithms for detecting and correcting errors in embedded systems. The quality of the algorithm for detecting and correcting errors in such systems depends to a great extent on the behavioral description of this algorithm. Each algorithm for detecting and correcting errors is more efficient than the other. In this paper, two of the most common detector algorithms were studied, the circuit described by these algorithms was synthesized by SAED 14 and SAED 32 nanometer libraries and the parameters were evaluated.
Программные ошибки и постоянно уменьшающиеся технологии проложили путь к созданию алгоритмов обнаружения и исправления программных ошибок во встроенных системах. Степень сложности алгоритма обнаружения и исправления ошибок в таких системах зависит от его поведенческого описания. В данной работе были изучены два из наиболее распространенных алгоритмов детектирования, проведено исследование схем с описанием этих алгоритмов, синтезированных для технологий САУД 14нм и САУД 32нм, оценка и сравнение параметров.

Հրատարակության վայրը:

Շուշի

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:428832

Խորագիր և բանալի բառեր:

Electronics integrated circuit device description language codeword

Օբյեկտի հավաքածուներ:

Digital Library > Հոդվածներ

Վերջին անգամ ձևափոխված:

Apr 8, 2026

Մեր գրադարանում է սկսած:

Apr 7, 2026

Օբյեկտի բովանդակության հարվածների քանակ:

Օբյեկտի բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/461947

Ցույց տուր նկարագրությունը RDF ձևաչափով:

RDF

Ցույց տուր նկարագրությունը OAI-PMH ձևաչափով։

OAI-PMH

Տեղեկագիր բարձր տեխնոլոգիաների=Известия высоких технологий=Bulletin of high technology

Հրատարակության անուն	Ամսաթիվ
Melikyan, N. V., Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors	Apr 8, 2026

Օբյեկտ

Վերնագիր: Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors

Ստեղծողը:

Տեսակ:

Հրապարակման մանրամասներ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Հրապարակման ամսաթիվ:

Համար:

ISSN:

Պաշտոնական URL:

Լրացուցիչ տեղեկություն:

Այլ վերնագիր:

Ծածկույթ:

Ամփոփում:

Հրատարակության վայրը:

Ձևաչափ:

Նույնացուցիչ:

Խորագիր և բանալի բառեր:

Օբյեկտի հավաքածուներ:

Վերջին անգամ ձևափոխված:

Մեր գրադարանում է սկսած:

Օբյեկտի բովանդակության հարվածների քանակ:

Օբյեկտի բոլոր հասանելի տարբերակները:

Ցույց տուր նկարագրությունը RDF ձևաչափով:

Ցույց տուր նկարագրությունը OAI-PMH ձևաչափով։

Օբյեկտի տեսակ՝

Նման

Կապի մանրամասներ

Հասցե

Հեռախոս

Էլ․ փոստ

Այցելեք մեզ։