Publication Details:
Journal or Publication Title:
Տեղեկագիր բարձր տեխնոլոգիաների=Известия высоких технологий=Bulletin of high technology
Date of publication:
Number:
ISSN:
Official URL:
www.bulletin.am
Additional Information:
Title:
Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors
Other title:
Սխալի հայտնաբերման և ուղղման ալգորիթմներով ստացված սխեմաների պարամետրերի ուսումնասիրություն ; Изучение параметров схем полученных с алгоритмами обнаружения и исправления ошибки
Creator:
Melikyan, N. V. ; Danielyan, A. M. ; Manukyan, A. G. ; Galstyan, A. A.
Subject:
Uncontrolled Keywords:
integrated circuit ; device description language ; codeword
Coverage:
Abstract:
Software errors and constantly reducing technologies have paved the way for the creation of software algorithms for detecting and correcting errors in embedded systems. The quality of the algorithm for detecting and correcting errors in such systems depends to a great extent on the behavioral description of this algorithm. Each algorithm for detecting and correcting errors is more efficient than the other. In this paper, two of the most common detector algorithms were studied, the circuit described by these algorithms was synthesized by SAED 14 and SAED 32 nanometer libraries and the parameters were evaluated.
Программные ошибки и постоянно уменьшающиеся технологии проложили путь к созданию алгоритмов обнаружения и исправления программных ошибок во встроенных системах. Степень сложности алгоритма обнаружения и исправления ошибок в таких системах зависит от его поведенческого описания. В данной работе были изучены два из наиболее распространенных алгоритмов детектирования, проведено исследование схем с описанием этих алгоритмов, синтезированных для технологий САУД 14нм и САУД 32нм, оценка и сравнение параметров.
Place of publishing:
Շուշի