Հրապարակման մանրամասներ:

Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Հրապարակման ամսաթիւ:

2025

Հատոր:

60

Համար:

2

ISSN:

0002-3035

Պաշտոնական URL:

Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

Eyramjyan T. H., Mnatsakanyan T. S., Haroutunyan L. A.

Այլ վերնագիր:

X-Ray Interferometric Imaging of Dislocations Generated in Hard LLL Interferometer

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)

Ծածկոյթ:

289-294

Ամփոփում:

Исследован жесткий LLL интерферометр из бездислокационного монокристалла кремния, существенно отличающийся от ранее известных типов рентгеновских интерферометров. Такой интерферометр проявляет большую чувствительность как к изначально присутствующим, так и привнесенным дефектам в кристалле. В измененной части зеркального блока интерферометра генерировалось небольшое количество дислокаций, наличие которых подтверждается рентгеновскими топограммами. Получены интерферометрические изображения дислокаций, генерируемых в зеркальном блоке. Проведено численное моделирование отображения единичной краевой дислокации по рассмотренной схеме. A hard LLL interferometer made of dislocation-free silicon single crystal has been investigated that differs significantly from previously known types of X-ray interferometers. Such an interferometer is highly sensitive to both initially present and introduced defects in the crystal. Several dislocations were generated in the modified part of the mirror block of the interferometer, which is confirmed by X-ray topograms. Interferometric images of dislocations generated in the mirror block were obtained. The numerical simulation of the imaging of a single edge dislocation is carried out according to the considered scheme.

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

կապին հետեւելուն համար սեղմէ հոս ; oai:arar.sci.am:403889

Դասիչ:

АЖ 415

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան