Исследован жесткий LLL интерферометр из бездислокационного монокристалла кремния, существенно отличающийся от ранее известных типов рентгеновских интерферометров. Такой интерферометр проявляет большую чувствительность как к изначально присутствующим, так и привнесенным дефектам в кристалле. В измененной части зеркального блока интерферометра генерировалось небольшое количество дислокаций, наличие которых подтверждается рентгеновскими топограммами. Получены интерферометрические изображения дислокаций, генерируемых в зеркальном блоке. Проведено численное моделирование отображения единичной краевой дислокации по рассмотренной схеме. A hard LLL interferometer made of dislocation-free silicon single crystal has been investigated that differs significantly from previously known types of X-ray interferometers. Such an interferometer is highly sensitive to both initially present and introduced defects in the crystal. Several dislocations were generated in the modified part of the mirror block of the interferometer, which is confirmed by X-ray topograms. Interferometric images of dislocations generated in the mirror block were obtained. The numerical simulation of the imaging of a single edge dislocation is carried out according to the considered scheme.

АЖ 415

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Հրապարակման մանրամասներ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Հրապարակման ամսաթիւ:

Հատոր:

Համար:

ISSN:

Պաշտոնական URL:

Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

Վերնագիր:

Այլ վերնագիր:

Ստեղծողը:

Աջակից(ներ):

Խորագիր:

Ծածկոյթ:

Ամփոփում:

Տեսակ:

Ձեւաչափ:

Նոյնացուցիչ:

Դասիչ:

Բնօրինակին գտնուելու վայրը: