Հրապարակման մանրամասներ:

Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ և ՀԱՊՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and NPUA: Technical Sciences

Հրապարակման ամսաթիվ:

2019

Հատոր:

72

Համար:

2

ISSN:

0002-306X

Պաշտոնական URL:

Այլ վերնագիր:

Ներդրված հիշող սարքերի ֆունկցիոնալ թեստավորման սցենարներ ավտոմոբիլային բյուրեղում; Сценарии функционального тестирования устройств памяти, встроенных в системы на кристалле автомобильных систем

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Ծածկույթ:

246-252

Ամփոփում:

Periodic testing of embedded memory devices in modern system-on-chips (SoC) is becoming an increasingly common requirement. Automotive is one of the largest semiconductor markets with the requirement of in-filed testing of embedded memories. Hardware implementation of test algorithms in memory built-in self-test (BIST) scheme allows in-field testing only with predefined instructions which restricts flexibility of system test in mission mode. In this paper, different scenarios for memory testing in mission mode is proposed, which are controlled and configured by microcontrollers Safety Manager. Արդի բյուրեղի վրա համակարգերում ներկառուցված հիշող սարքերի պարբերական թեստավորումը դառնում է հիմնական անհրաժեշտություններից մեկը: Ավտոմոբիլային համակարգերը դարձել են կիսահաղորդիչներ օգտագործող ամենամեծ շուկաներից մեկը, որոնք պահանջում են ներդրված հիշող սարքերի թեստավորում ֆունկցիոնալ աշխատանքի ժամանակ։ Ներդրված թեստավորման համակարգերում թեստային ալգորիթմների ապարատային իրականացումը թույլատրում է թեստավորում ֆունկցիոնալ աշխատանքի պահին՝ միայն նախապես ծրագրավորված հրամաններով, որը սահմանափակում է թեստավորման ճկունությունը։ Հոդվածում ներկայացված են ներդրված հիշող սարքերի թեստավորման տարբեր սցենարներ ֆունկցիոնալ աշխատանքի ընթացքում, որոնք ղեկավարելու է միկրոպրոցեսորը։ Периодическое тестирование устройств памяти, встроенных в современные системы на кристалле (СнК), становится все более необходимым требованием. Автомобильные системы являются одним из крупнейших рынков полупроводников с требованием тестирования встроенной памяти в реальном времени. Аппаратная реализация тестовых алгоритмов во встроенных системах самотестирования обеспечивает тестирование только с предопределенными инструкциями в функциональном режиме, что ограничивает гибкость тестирования. В статье предлагаются различные сценарии тестирования памяти в функциональном режиме, которые управляются и настраиваются микропроцессором.

Հրատարակության վայրը:

Երևան

Հրատարակիչ:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2019-05-09

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:33234

Դասիչ:

АЖ 413

Թվայնացում:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան