Publication Details:

Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ և ՀԱՊՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and NPUA: Technical Sciences

Date of publication:

2019

Volume:

72

Number:

2

ISSN:

0002-306X

Official URL:

Other title:

Հետսիլիկոնային վերլուծության ավտոմատացման ծրագրային գործիքներում հիշողության թեստավորման և արատորոշման գործընթացների իրականացման ստուգումը; Верификация реализации процессов тестирования и диагностирования памяти в программных инструментах автоматического постсиликонового анализа

Contributor(s):

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Coverage:

235-245

Abstract:

With rapidly increasing density and capacity of nanoscale memory devices embedded in modern system-on-chips (SoC), new design problems are being introduced, as well as the requirements are strengthened towards test and diagnosis for achieving higher quality and increased yield. This leads to modification of existing and/or development of new memory test, fault detection, localization and classification flows that are being implemented in various software post-silicon analysis automation tools. In this paper, an approach for verification of those tools is proposed. Արդի բյուրեղի վրա համակարգերում (SoC) ներկառուցված նանոչափական հիշող սարքերի արագորեն աճող խտությամբ և հզորությամբ պայմանավորված՝ ի հայտ են գալիս նախագծման նոր խնդիրներ, ինչպես նաև, բարձր որակը և արտադրողականությունը ապահովվելու նպատակով, խստացվում են պահանջները թեստավորման և արատորոշման նկատմամբ։ Սա հանգեցնում է հետսիլիկոնային վերլուծության ավտոմանտացման ծրագրային տարբեր գործիքներում իրականցված հիշողության թեստավորման, սխալների հայտնաբերման, տեղայնացման և դասակարգման առկա գործընթացների փոփոխման և/կամ նորերի ստեղծման անհրաժեշտությանը։ Այս հոդվածում առաջարկվում է այդ գործիքների ստուգման մոտեցում: Резкое увеличение плотности и мощности нанометровых устройств памяти, встроенных в системы на кристалле (СнК), приводит к новым проблемам проектирования, а также ужесточению требований к тестированию и диагностированию. Это вызывает необходимость модификации имеющихся или реализации новых процессов тестирования, нахождения, локализации и классификации ошибок в программных инструментах автоматического постсиликонового анализа. В статье предлагается подход к верификации этих инструментов.

Place of publishing:

Երևան

Publisher:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Date created:

2019-05-09

Format:

pdf

Identifier:

oai:arar.sci.am:33233

Call number:

АЖ 413

Digitization:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան