Հրապարակման մանրամասներ:

Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ և ՀԱՊՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and NPUA: Technical Sciences

Հրապարակման ամսաթիւ:

2020

Հատոր:

73

Համար:

4

ISSN:

0002-306X

Պաշտոնական URL:

Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

Պետրոսյան Գ. Ա., Петросян Г. А.

Այլ վերնագիր:

Համեմատիչների հուսալիության բարձրացման մեթոդը ժամանակակից անալոգային գերմեծ ինտեգրալ սխեմաներում ; Метод повышения надежности компараторов всовременных аналоговых сверхбольших интегральных схемах

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Ծածկոյթ:

424-433

Ամփոփում:

Տեխնոլոգիական զարգացման ուղղությունները, ինչպիսիք են արհեստական բանականությունը և ինքնավար երթևեկումը, անհրաժեշտություն են առաջացնում` ընդգրկելու ինտեգրալ սխեմաների (ԻՍ) մեծ թվով անալոգային կոմպոնենտներ ֆիզիկական աշխարհում։ Անալոգային մասի նախագծումը և ստուգումը նշանակալի տեղ է զբաղեցնում ընդհանուր սխեմայի նախագծման գործընթացում։ Ժամանակակից ինտեգրալ սխեմաները լայնորեն կիրառվում են համակարգերում, որտեղ ֆունկցիոնալ կամ հուսալիության հետ կապված խնդիրները կարող են հանգեցնել անուղղելի հետևանքների։ Սա ստիպում է ՒՍ նախագծողներին ընդլայնել ստուգումների տիրույթը՝ խնդիրները հայտնաբերելու ոչ թե արտադրված սխեմայում, տպասալում կամ ԻՍ-ն կիրառելիս, այլ նախագծման և ստուգումների փուլում։ Այդպիսի ընդլայնված ստուգումների իրականացումը պահաջում է ճիշտ սահմանված տեխնոլոգիական գործընթաց, լարում և ջերմաստիճան, որոնց հիման վրա էլ կիրականացվեն SPICE ֆունկցիոնալ նմանարկում, էլեկտրամիգրացիայի, սնման դողերի վրա լարման անկման, ծերացման, գերլարման և Մոնտե Կառլո ստուգումները։ Ուսումնասիրվել է տեխնոլոգիական շեղումների ազդեցությունն անալոգային համեմատիչների վրա։ Առաջարկվել է մեթոդ, որը լուծում է գերարագ հաղորդիչ սխեմաներում կիրառվող համեմատիչներում ի հայտ եկող շեղման լարման խնդիրը ± 3 սիգմայի տիրույթում. տեխնոլոգիական շեղումների արդյունքում առաջացած 250 մՎ շեղման լարումը նվազել է մինչև 25 մՎ: Технологические тенденции, такие как искусственный интеллект и беспилотное вождение, вызывают необходимость подключения большого количества аналоговых компонентов интегральных схем (ИС) к физическому миру. Разработка и проверка данных аналоговых компонентов занимают значительную часть процесса разработки всей схемы. Современные ИС широко используются в системах, где функциональные проблемы или проблемы с надежностью могут привести к неустранимым последствиям. Это вынуждает разработчиков ИС расширить охват проверки для обнаружения проблем на этапе проектирования и проверки, а не на этапе тестирования готового кремниевого изделия, печатной платы или на этапе применения ИС. Реализация расширенной проверки требует правильно установленных условий процесса, значений напряжения и температуры, на основе которых должны выполняться функциональное моделирование SPICE, электромиграция, падение напряжения, старение, перенапряжение и проверки Монте-Карло. Проанализировано влияние технологического отклонения на аналоговые компараторы. Предложено решение, которое разрешило проблему смещения в компараторах, используемых в высокоскоростных передатчиках: смещение 250 мВ, вызванное технологическими отклонениями в диапазоне ± 3 сигма, уменьшено до 25 мВ.

Հրատարակութեան վայրը:

Երևան

Հրատարակիչ:

«Պոլիտեխնիկ» տպ.

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:269634

Դասիչ:

АЖ 413

Թուայնացում:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան