Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2009

Հատոր:

2

Համար:

3

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Ծածկոյթ:

157-163

Ամփոփում:

A polycrystalline Be target is submitted to the impact of 5 keV krypton ion beam. The sputtered Be particles at different angles of incidence are measured. The SRIM code and OKSANA simulation program were employed to obtain the sputtering yields of Be atoms. The angular distributions of sputtered Be particles and sputtering yields were compared each other and revealed that both of them were in a fairly good agreement. The surface morphology is observed by scanning electron micrography. The resulting differences between simulations and experiment are explained quantitatively.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2009-10-19

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23235

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան