Հրապարակման մանրամասներ:

"ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ" հանդեսը հիմնադրվել է 1944թ.: Լույս է տեսնում տարին 4 անգամ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ = Доклады НАН РА = Reports NAS RA

Հրապարակման ամսաթիւ:

2012

Հատոր:

112

Համար:

3

ISSN:

0321-1339

Պաշտոնական URL:

Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

կապին հետեւելուն համար սեղմէ հոս

Այլ վերնագիր:

Անսարքությունների և թեստ ալգորիթմների պարբերականության հիպոթեզ հիշող սարքերում և դրա կիրառումը հիշող սարքերի ներդրված ինքնաթեստավորող պրոցեսորի ճարտարապետությունում / Գ. Է. Հարությունյան, Ս. Կ. Շուքուրյան, Ե. Ա. Զորյան։ Гипотеза периодичности ошибок и тестовых алгоритмов для устройств памяти и ее применение в архитекуре процессора встроенного тестирования памяти / Г. Э. Арутюнян, С. К. Шукурян, Зорян Е. А.

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ.՝ Վ. Հ․ Համբարձումյան (1944-1959) ; Մ․ Մ․ Ջրբաշյան (1960-1965) ; Ա․ Գ․ Նազարով (1966-1983) ; Պատ․ խմբ․ տեղակալ՝ Վ․ Հ․ Ղազարյան (1983-1986) ; Պատ․ խմբ․՝ Դ․ Մ․ Սեդրակյան (1987-1999) ; Գլխավոր խմբ․՝ Ս․ Ա․ Համբարձումյան (2000-2004) ; Վ․ Ս․ Զաքարյան (2005-2018) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (2018-)

Ծածկոյթ:

229-238

Ամփոփում:

This paper introduces a new approach for building a generic built-in self-test (BIST) processor architecture for memory testing that is based on a hypothesis of periodicity and regularity for faults and test algorithms. Ներկայացվում է նոր մոտեցում՝ կառուցելու համընդհանուր ներդրված ինքնաթեստավորող պրոցեսորի ճարտարապետություն հիշող սարքերի թեստավորման համար, որը հիմնված է անսարքությունների և թեստ ալգորիթմների պարբերականության և կանոնավորության հիպոթեզի վրա։ Предлагается новый подход к построению архитектуры универсального процессора встроенного тестирования для устройств памяти, основанный на гипотезе периодичности и регулярности ошибок.

Հրատարակութեան վայրը:

Երևան

Հրատարակիչ:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2012-07-15

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:46533

Դասիչ:

АЖ 144

Թուայնացում:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան