Անսարքությունների և թեստ ալգորիթմների պարբերականության հիպոթեզ հիշող սարքերում և դրա կիրառումը հիշող սարքերի ներդրված ինքնաթեստավորող պրոցեսորի ճարտարապետությունում / Գ. Է. Հարությունյան, Ս. Կ. Շուքուրյան, Ե. Ա. Զորյան։ Гипотеза периодичности ошибок и тестовых алгоритмов для устройств памяти и ее применение в архитекуре процессора встроенного тестирования памяти / Г. Э. Арутюнян, С. К. Шукурян, Зорян Е. А.

G. E. Harutyunyan ; S. K. Shoukourian ; Y. A. Zorian

Պատ․ խմբ.՝ Վ. Հ․ Համբարձումյան (1944-1959) ; Մ․ Մ․ Ջրբաշյան (1960-1965) ; Ա․ Գ․ Նազարով (1966-1983) ; Պատ․ խմբ․ տեղակալ՝ Վ․ Հ․ Ղազարյան (1983-1986) ; Պատ․ խմբ․՝ Դ․ Մ․ Սեդրակյան (1987-1999) ; Գլխավոր խմբ․՝ Ս․ Ա․ Համբարձումյան (2000-2004) ; Վ․ Ս․ Զաքարյան (2005-2018) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (2018-)

fault periodicity ; March test ; symmetry ; memory BIST

229-238

This paper introduces a new approach for building a generic built-in self-test (BIST) processor architecture for memory testing that is based on a hypothesis of periodicity and regularity for faults and test algorithms. Ներկայացվում է նոր մոտեցում՝ կառուցելու համընդհանուր ներդրված ինքնաթեստավորող պրոցեսորի ճարտարապետություն հիշող սարքերի թեստավորման համար, որը հիմնված է անսարքությունների և թեստ ալգորիթմների պարբերականության և կանոնավորության հիպոթեզի վրա։ Предлагается новый подход к построению архитектуры универсального процессора встроенного тестирования для устройств памяти, основанный на гипотезе периодичности и регулярности ошибок.

Երևան

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

2012-07-15

Հոդված

Հրապարակման մանրամասներ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Հրապարակման ամսաթիվ:

Հատոր:

Համար:

ISSN:

Պաշտոնական URL:

Լրացուցիչ տեղեկություն:

Վերնագիր:

Այլ վերնագիր:

Ստեղծողը:

Աջակից(ներ):

Խորագիր:

Չվերահսկվող բանալի բառեր:

Ծածկույթ:

Ամփոփում:

Հրատարակության վայրը:

Հրատարակիչ:

Ստեղծման ամսաթիվը:

Տեսակ:

Ձևաչափ:

Դասիչ:

Թվայնացում:

Բնօրինակի գտնվելու վայրը: