Object

Title: Новый рентгеновский метод определения динамических характеристик дислокаций, генерированных в блок-кристалле интерферометра

Publication Details:

Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Date of publication:

2026

Volume:

61

Number:

3

ISSN:

0002-3035

Official URL:


Additional Information:

Դրմեյան Հ. Ռ., Էյրամջյան Տ. Հ., Մխիթարյան Ս. Ա., Վասիլյան Մ. Ս., Դովլաթյան Տ. Գ., Նորեյան Ս. Ն., Drmeyan H. R., Eyramjyan T. H., Mkhitaryan S. A., Vasilyan M. S., Dovlatyan T. G., Noreyan S. N.

Other title:

Ինտերֆերաչափի բլոկ-բյուրեղում գեներացված դիսլոկացիաների դինամիկական բնութագրերի որոշման նոր ռենտգենյան մեթոդ ; A New X-Ray Method for Determining the Dynamic Characteristics of Dislocations Generated in an Interferometer Block-Crystal

Contributor(s):

Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)

Coverage:

511–518

Abstract:

Предложен новый высокочувствительный рентгеноинтерферометрический метод исследования динамических характеристик дислокаций в зависимости от плотности дислокаций и их перемещения. Определена зависимость периода муаровых полос от этих параметров. Рассчитаны среднее значение плотности дислокаций вблизи центра царапины, средняя длина свободного пробега дислокации и протяжённость группы дислокаций, выстроенных вдоль царапины. Дано объяснение возникновения искривлений интерференционных полос на муаровых топограммах. Экспериментально доказано, что эти искривления являются результатом царапины, нанесённой на поверхность кристаллического блока рентгеновского интерферометра. Определены некоторые параметры царапины.
A new highly sensitive X-ray interferometric method is proposed for investigating the dynamic characteristics of dislocations as a function of their density and displacement. The dependence of the moiré fringe period on these parameters has been determined. The average dislocation density near the center of the scratch, the average dislocation mean free path, and the extent of the dislocation group aligned along the scratch have been calculated. An explanation for the origin of the distortion of interference fringes on moiré topograms is presented. It has been experimentally demonstrated that these distortions are caused by a scratch formed on the surface of the crystal block of the X-ray interferometer. Several parameters of the scratch have been determined.

Format:

pdf

Identifier:

click here to follow the link ; oai:arar.sci.am:440537

Call number:

АЖ 415

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Object collections:

Last modified:

Sep 14, 2026

In our library since:

Sep 14, 2026

Number of object content hits:

55

All available object's versions:

https://arar.sci.am/publication/474873

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Objects

Similar

This page uses 'cookies'. More information