Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2023

Հատոր:

16

Համար:

1

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Համատեղ հեղինակները:

Laboratory of Energetic Engineering and Materials, Faculty of Sciences Ibn Tofail, Kenitra, Morocco. ; Physics department, Faculty of Sciences of Agadir, BP 8106, 80000 Agadir, Morocco. ; Laboratory of LSTIC, Physics Department, Faculty of Sciences, Chouaib Doukkali, El jadida, Morocco.

Ծածկոյթ:

7-12

Ամփոփում:

In this work, we study the behavior of resistivity as a function of temperature and for several samples of ZnSxSe1-x thin films with x = 0, 0.2, 0.4, 0.5, 0.6, 0.8 and 1.0 respectively. In fact, we re-analyze in our investigation experimental measurements obtained by M. Popa et al. [1] in the range of temperature from 300 K to 500 K. We showed that the resistivity follows a nearest neighbor site hopping conduction mechanism with ��=���������� (����������) for very high temperatures and Mott variable range hopping conduction with ��=���������� (������)��/�� for relatively low temperatures. The crossover between the two regimes can be explained by the competition between the localization length scale ��������and the hopping length scale ��������.

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

կապին հետեւելուն համար սեղմէ հոս ; oai:arar.sci.am:359434

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան