Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Առաջարկվում է համապիտանի ներկառուցված թեստավորման համակարգ (ՆԹՀ), որն ապահովում է թեստային ալգորիթմների ծրագրավորման առավելագույն մակարդակ: Առաջարկված ՆԹՀ-ն հնարավորություն է տալիս ընդլայնել հայտնաբերվող անսարքությունների բազմությունը` առանց փոխելու ՆԹՀ-ի ճարտարապետությունը: Предлагается универсальная встроенная тестовая система (ВТС), которая обеспечивает максимальный уровень программируемости тестовых алгоритмов. Предлагаемая ВТС дает возможность расширить множество обнаруживаемых неисправностей без изменения архитектуры ВТС. A universal built-in self-test (BIST) system is proposed which provides a maximum level of test algorithm programmability is proposed. The proposed BIST system allows to extend the set of detected faults without changing the BIST architecture.
Երևան
oai:arar.sci.am:33093
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան
Oct 11, 2024
Mar 3, 2020
39
https://arar.sci.am/publication/36843
Հրատարակության անուն | Ամսաթիվ |
---|---|
Համապիտանի ներկառուցված թեստավորման համակարգ` հիմնված անսարքությունների պարբերական աղյուսակի և թեստային ալգորիթմների շաբլոնի վրա | Oct 11, 2024 |
Ghazaryan, A. V. Sagradyan, S. I. Գլխավոր խմբագիր՝ Հ. Ս. Ծպնեցյան
Ter-Movsesyan, H. Zh. Գլխավոր խմբագիր՝ Հ. Ս. Ծպնեցյան
Sahakyan, E. L. Sargsyan, H. S. Գլխավոր խմբագիր՝ Հ. Ս. Ծպնեցյան
Petrosyan, A. A. G. A. Petrosyan Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Մարուխյան, Ո. Զ. Էլբակյան, Ս. Հ. Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Գ. Վ. Մուսայելյան Է. Ժ. Հարությունյան Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Danielyan, Gyulnara