Publication Details:
Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Journal or Publication Title:
Date of publication:
Volume:
Number:
ISSN:
Official URL:
Title:
Other title:
Creator:
Contributor(s):
Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Subject:
Uncontrolled Keywords:
անսարքություն ; թեստային ալգորիթմ ; հիշող սարք ; ներկա-ռուցված թեստավորման համակարգ ; թեստային ալգորիթմի ռեգիստր ; անսարքությունների պարբերական աղյուսակ:
Coverage:
Abstract:
Առաջարկվում է համապիտանի ներկառուցված թեստավորման համակարգ (ՆԹՀ), որն ապահովում է թեստային ալգորիթմների ծրագրավորման առավելագույն մակարդակ: Առաջարկված ՆԹՀ-ն հնարավորություն է տալիս ընդլայնել հայտնաբերվող անսարքությունների բազմությունը` առանց փոխելու ՆԹՀ-ի ճարտարապետությունը: Предлагается универсальная встроенная тестовая система (ВТС), которая обеспечивает максимальный уровень программируемости тестовых алгоритмов. Предлагаемая ВТС дает возможность расширить множество обнаруживаемых неисправностей без изменения архитектуры ВТС. A universal built-in self-test (BIST) system is proposed which provides a maximum level of test algorithm programmability is proposed. The proposed BIST system allows to extend the set of detected faults without changing the BIST architecture.
Place of publishing:
Երևան
Publisher:
Date created:
Type:
Format:
Call number:
Digitization:
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան