Հրապարակման մանրամասներ:

Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ և ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Հրապարակման ամսաթիւ:

2003

Հատոր:

56

Համար:

2

ISSN:

0002-306X

Պաշտոնական URL:

Այլ վերնագիր:

Երկարգելք կիսահաղորդչային կառուցվածքներում ծավալային լիցքերով տիրույթի լայնության որոշման հնարավորության մասին; On opportunity to define the width of space charge region in the double-barrier structures

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Ծածկոյթ:

341-345

Ամփոփում:

Рассматриваются вольт-амперные характеристики и спектральное распределение фототоков двухбарьерных структур с высокоомной прослойкой при наличии и отсутствии длинноволновых потерь. Показана возможность определения ширины областей пространственных зарядов (ОПЗ) переходов путем измерения длины волны инверсии спектрального фототока. Դիտարկվում են բարձր օհմային բազայով երկարգելք կառուցվածքների վոլտ- ամպերային բնութագրերը և ֆոտոհոսանքների սպեկտրալ բաշխումը՝ երկարալիքային կորուստների առկայության և բացակայության պայմաններում: Բերվում է տրված պոտենցիալ արգելքների ծավալային լիցքերով շերտերի լայնության որոշման եղանակ՝ սպեկտրալ ֆոտոհոսանքի նշանափոխման կետի ալիքի երկարության չափման մեթոդով: Current-voltage characteristics and spectral distribution of photocurrents of doublebarrier structures with high-resistance base are reviewed in the presence and absence of long-wave losses. There is an opportunity to define the width of space charge region of junctions by measuring the length of inversion wave of spectral photocurrent.

Հրատարակութեան վայրը:

Երևան

Հրատարակիչ:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2003-08-13

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:32093

Դասիչ:

АЖ 413

Թուայնացում:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան