О возможности определения ширины ОПЗ в двухбарьерных структурах

Երկարգելք կիսահաղորդչային կառուցվածքներում ծավալային լիցքերով տիրույթի լայնության որոշման հնարավորության մասին; On opportunity to define the width of space charge region in the double-barrier structures

С. Х. Худавердян ; А. А. Арутюнян ; Ж. Г. Дохолян ; А. А. Кочарян

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Electrical engineering; Electronics; Nuclear engineering ; Technology

Խուդավերդյան Ս. Խ. ; Հարությունյան Հ. Հ. ; Դոխոլյան Ժ. Գ. ; Քոչարյան Ա. Ա. ; Khudaverdyan S. H. ; Harutyunyan H. H. ; Dokholyan J.G. ; Kocharyan A.A. ; спектральная характеристика ; фотогенерированные носители ; область пространственных зарядов ; тыловой барьер

341-345

Рассматриваются вольт-амперные характеристики и спектральное распределение фототоков двухбарьерных структур с высокоомной прослойкой при наличии и отсутствии длинноволновых потерь. Показана возможность определения ширины областей пространственных зарядов (ОПЗ) переходов путем измерения длины волны инверсии спектрального фототока. Դիտարկվում են բարձր օհմային բազայով երկարգելք կառուցվածքների վոլտ- ամպերային բնութագրերը և ֆոտոհոսանքների սպեկտրալ բաշխումը՝ երկարալիքային կորուստների առկայության և բացակայության պայմաններում: Բերվում է տրված պոտենցիալ արգելքների ծավալային լիցքերով շերտերի լայնության որոշման եղանակ՝ սպեկտրալ ֆոտոհոսանքի նշանափոխման կետի ալիքի երկարության չափման մեթոդով: Current-voltage characteristics and spectral distribution of photocurrents of doublebarrier structures with high-resistance base are reviewed in the presence and absence of long-wave losses. There is an opportunity to define the width of space charge region of junctions by measuring the length of inversion wave of spectral photocurrent.

Երևան

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան