Publication Details:
Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Journal or Publication Title:
Date of publication:
Volume:
Number:
ISSN:
Official URL:
Title:
О возможности определения ширины ОПЗ в двухбарьерных структурах
Other title:
Creator:
С. Х. Худавердян ; А. А. Арутюнян ; Ж. Г. Дохолян ; А. А. Кочарян
Contributor(s):
Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Subject:
Electrical engineering; Electronics; Nuclear engineering ; Technology
Uncontrolled Keywords:
Խուդավերդյան Ս. Խ. ; Հարությունյան Հ. Հ. ; Դոխոլյան Ժ. Գ. ; Քոչարյան Ա. Ա. ; Khudaverdyan S. H. ; Harutyunyan H. H. ; Dokholyan J.G. ; Kocharyan A.A. ; спектральная характеристика ; фотогенерированные носители ; область пространственных зарядов ; тыловой барьер
Coverage:
Abstract:
Рассматриваются вольт-амперные характеристики и спектральное распределение фототоков двухбарьерных структур с высокоомной прослойкой при наличии и отсутствии длинноволновых потерь. Показана возможность определения ширины областей пространственных зарядов (ОПЗ) переходов путем измерения длины волны инверсии спектрального фототока. Դիտարկվում են բարձր օհմային բազայով երկարգելք կառուցվածքների վոլտ- ամպերային բնութագրերը և ֆոտոհոսանքների սպեկտրալ բաշխումը՝ երկարալիքային կորուստների առկայության և բացակայության պայմաններում: Բերվում է տրված պոտենցիալ արգելքների ծավալային լիցքերով շերտերի լայնության որոշման եղանակ՝ սպեկտրալ ֆոտոհոսանքի նշանափոխման կետի ալիքի երկարության չափման մեթոդով: Current-voltage characteristics and spectral distribution of photocurrents of doublebarrier structures with high-resistance base are reviewed in the presence and absence of long-wave losses. There is an opportunity to define the width of space charge region of junctions by measuring the length of inversion wave of spectral photocurrent.
Place of publishing:
Երևան
Publisher:
Date created:
Type:
Format:
Call number:
Digitization:
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան