Journal or Publication Title:

Математические вопросы кибернетики и вычислительной техники=Կիբեռնետիկայի և հաշվողական տեխնիկայի մաթեմատիկական հարցեր=Mathematical problems of computer science

Date of publication:

2006

Volume:

25

ISSN:

0131-4645

Additional Information:

click here to follow the link

Other title:

Պիտանի արտադրանքի օպտիմալացման մի նոր մոտեցման մասին

Coverage:

85-91

Abstract:

In this paper a novel approach for yield optimization is presented. While there are di®erent types of defects or other issues a®ecting the yield, only the "extra conductive material" type (potentially causing shorts circuits) is studied. The approach tends to improve the yield of the IC layout by reducing the area which is sensitive to random defects, the so-called critical area.

Publisher:

Изд-во НАН РА

Date created:

2006-05-10

Format:

pdf

Identifier:

oai:arar.sci.am:258471

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան