Ցույց տուր կառուցվածքը

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Математические вопросы кибернетики и вычислительной техники=Կիբեռնետիկայի և հաշվողական տեխնիկայի մաթեմատիկական հարցեր=Mathematical problems of computer science

Հրապարակման ամսաթիվ:

2006

Հատոր:

25

ISSN:

0131-4645

Լրացուցիչ տեղեկություն:

սեղմիր այստեղ կապին հետևելու համար

Վերնագիր:

A novel approach for yield optimization

Այլ վերնագիր:

Պիտանի արտադրանքի օպտիմալացման մի նոր մոտեցման մասին

Ստեղծողը:

Vazgen S. Karapetyan

Խորագիր:

Mathematics

Չվերահսկվող բանալի բառեր:

Կարապետյան Վ.

Ծածկույթ:

85-91

Ամփոփում:

In this paper a novel approach for yield optimization is presented. While there are di®erent types of defects or other issues a®ecting the yield, only the "extra conductive material" type (potentially causing shorts circuits) is studied. The approach tends to improve the yield of the IC layout by reducing the area which is sensitive to random defects, the so-called critical area.

Հրատարակիչ:

Изд-во НАН РА

Ստեղծման ամսաթիվը:

2006-05-10

Տեսակ:

Հոդված

Ձևաչափ:

pdf

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան