Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Математические вопросы кибернетики и вычислительной техники=Կիբեռնետիկայի և հաշվողական տեխնիկայի մաթեմատիկական հարցեր=Mathematical problems of computer science

Հրապարակման ամսաթիվ:

2006

Հատոր:

25

ISSN:

0131-4645

Լրացուցիչ տեղեկություն:

click here to follow the link

Այլ վերնագիր:

Պիտանի արտադրանքի օպտիմալացման մի նոր մոտեցման մասին

Ծածկույթ:

85-91

Ամփոփում:

In this paper a novel approach for yield optimization is presented. While there are di®erent types of defects or other issues a®ecting the yield, only the "extra conductive material" type (potentially causing shorts circuits) is studied. The approach tends to improve the yield of the IC layout by reducing the area which is sensitive to random defects, the so-called critical area.

Հրատարակիչ:

Изд-во НАН РА

Ստեղծման ամսաթիվը:

2006-05-10

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:258471

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան