Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Математические вопросы кибернетики и вычислительной техники=Կիբեռնետիկայի և հաշվողական տեխնիկայի մաթեմատիկական հարցեր=Mathematical problems of computer science

Հրապարակման ամսաթիւ:

2006

Հատոր:

25

ISSN:

0131-4645

Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

կապին հետեւելուն համար սեղմէ հոս

Այլ վերնագիր:

Պիտանի արտադրանքի օպտիմալացման մի նոր մոտեցման մասին

Ծածկոյթ:

85-91

Ամփոփում:

In this paper a novel approach for yield optimization is presented. While there are di®erent types of defects or other issues a®ecting the yield, only the "extra conductive material" type (potentially causing shorts circuits) is studied. The approach tends to improve the yield of the IC layout by reducing the area which is sensitive to random defects, the so-called critical area.

Հրատարակիչ:

Изд-во НАН РА

Ստեղծման ամսաթիւը:

2006-05-10

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:258471

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան