Օբյեկտ

Վերնագիր: Dielectric Characteristics of Pt/BaxSr1-xTiO3/Pt Thin Film Structure under the Electron Beam Irradiation

Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիվ:

2016

Հատոր:

9

Համար:

2

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:


Համատեղ հեղինակները:

CANDLE Synchrotron Research Institute, Yerevan, Armenia ; National Polytechnic University of Armenia

Ծածկույթ:

138-146

Ամփոփում:

The dielectric properties of aBa0.25Sr0.75TiO3films with Pt interdigitated electrodes fabricated by pulsed laser deposition technique and examined under the low-energy electron beam irradiation. The structures were characterized by means of dielectric permittivity,ε-f, C-f, tgδ-f dependencies before and after irradiation over frequency range from 100 Hz to 1 MHz. Irradiations have been carried out in AREAL (Advanced Research Electron Accelerator Laboratory). The energy of electrons has been 4 MeV, bunch charge 10-200 pC, repetition rate 1-50 Hz. It was found that the dielectric permittivity and loss tangent, in general, are shifted to the more low frequency range and decreased after electron beam irradiation.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2016-05-01

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23441

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Օբյեկտի հավաքածուներ:

Վերջին անգամ ձևափոխված:

Dec 13, 2023

Մեր գրադարանում է սկսած:

Feb 27, 2020

Օբյեկտի բովանդակության հարվածների քանակ:

21

Օբյեկտի բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/26195

Ցույց տուր նկարագրությունը RDF ձևաչափով:

RDF

Ցույց տուր նկարագրությունը OAI-PMH ձևաչափով։

OAI-PMH

Հրատարակության անուն Ամսաթիվ
Dielectric Characteristics of Pt/BaxSr1-xTiO3/Pt Thin Film Structure under the Electron Beam Irradiation Dec 13, 2023

Այս էջը օգտագործում է 'cookie-ներ'։ Ավելի տեղեկատվություն