Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2014

Հատոր:

7

Համար:

4

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Համատեղ հեղինակները:

Institute of Applied Problems of Physics of NAS RA ; Department of Department of Physics, Dezful Branch, Islamic Azad University, Dezful, IranPhysics, Dezful Branch, Islamic Azad University, Dezful, Iran

Ծածկոյթ:

213-217

Ամփոփում:

Integrated intensity of diffracted of X-ray beams was registered from single crystal of ammonium dihydrogen phosphate (ADP) in the Laue geometry under influence from different temperature gradient and was observed a minimum in integrated intensity dependence on the temperature gradient. Formula for integral intensity of reflection in crystals with weak deformation has been applied to reflecting planes and extracted values of χih and χrh (the imaginary and real parts of coefficient of Fourier expansion of polarizability). Similarly, this method was used for KDP crystal and the results are compared with theoretical values.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2014-12-07

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23388

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան