Object

Title: Изготовление и исследование тандемных солнечных элементов перовскит/кремний с прослойкой черного кремния

Publication Details:

Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Date of publication:

2026

Volume:

61

Number:

2

ISSN:

0002-3035

Official URL:


Additional Information:

Ayvazyan G. Y., Katkov M. V., Lakhoyan L. M.

Other title:

Fabrication and Characterization of Perovskite/Silicon Tandem Solar Cells with a Black Silicon Interlayer

Contributor(s):

Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)

Coverage:

262–269

Abstract:

Представлены результаты экспериментального исследования изготовленных монолитных тандемных солнечных элементов перовскит/кремний с нанотекстурированной прослойкой черного кремния. Показано, что интеграция слоя черного кремния с оптимальной толщиной 530 нм приводит к увеличению эффективности преобразования мощности от 26.2 до 27.8% по сравнению с планарной архитектурой. Основной вклад вносит увеличение плотности тока короткого замыкания благодаря подавлению отражения и улучшенному светопоглощению на границе субэлементов. Зафиксированное небольшое снижение напряжения холостого хода обусловлено увеличением рекомбинации носителей заряда на развитой поверхности черного кремния. Экспериментальные результаты качественно подтверждают выводы численного моделирования.
The results of an experimental study of fabricated monolithic perovskite/silicon tandem solar cells incorporating a nanostructured black silicon interlayer are presented. It is shown that integration of a black silicon layer with an optimal thickness of 530 nm leads to an increase in power conversion efficiency from 26.2 to 27.8% compared to a planar architecture. The main contribution arises from an enhancement of the short-circuit current density due to suppressed reflection and improved light absorption at the subcell interface. The observed slight reduction in open-circuit voltage is attributed to increased charge-carrier recombination at the enlarged surface of black silicon. The experimental results qualitatively confirm the conclusions of numerical simulations.


Format:

pdf

Identifier:

click here to follow the link ; oai:arar.sci.am:436751

Call number:

АЖ 415

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Object collections:

Last modified:

Jul 27, 2026

In our library since:

Jul 9, 2026

Number of object content hits:

34

All available object's versions:

https://arar.sci.am/publication/471182

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Objects

Similar

This page uses 'cookies'. More information