Journal or Publication Title:

Математические вопросы кибернетики и вычислительной техники=Կիբեռնետիկայի և հաշվողական տեխնիկայի մաթեմատիկական հարցեր=Mathematical problems of computer science

Date of publication:

2020

Volume:

54

ISSN:

2579-2784

Official URL:

Additional Information:

Աբգարյան Գոռ Ա., Абгарян Гор А.

Other title:

Ներկառուցված ինքնաթեստավորման համակարգ արտաքին դինամիկ հիշողությունների համար ; Архитектура встроенного самотестирования для динамических памятей

Coverage:

80-87

Abstract:

In the fast-growing Integrated Circuits (IC) industry, memory is one of the few keys to have systems with improved and fast performance. Only one transistor and a capacitor are required for Dynamic Random-Access Memory (DRAM) bit. It is widely used for mass storage. Although the high-efficiency tests are performed to provide the reliability of the memories, maintaining acceptable yield and quality is still the most critical task. To perform a high-speed effective test of DRAM memories, a built-in self-test (BIST) mechanism is proposed. Արագ զարգացող ինտեգրալ սխեմաների արդյունաբերության մեջ հիշողությունը այն հիմնական տարրերից մեկն է, որը հնարվորություն է տալիս կատարելագործել համակարգը և մեծացնել համակարգի արագագործությունը: Մեկ բիթ դինամիկ հիշողությունը պահանջում է միայն մեկ տրանզիստոր և մեկ ունակություն: Այն լայնորեն օգտագործվում է մեծ ծավալի տվյալներ պահպանելու համար: Չնայած հիշողությունների հուսալիությունն ապահովելու համար կատարվում են բարձր արդյունավետությամբ թեստեր, ընդունելի պիտանի ելքի և որակի պահպանումը դեռևս ամենակարևոր խնդիրն է: Դինամիկ հիշողության արագագործ և արդյունավետ թեստավորում իրականացնելու համար առաջարկվում է ներկառուցված ինքնաթեստավորման համակարգ: В быстрорастущей индустрии интегральных схем, память - одна из немногих ключей к созданию систем с улучшенной и быстрой производительностью. Для бита динамической памяти с произвольным доступом требуются только один транзистор и один конденсатор. Она широко используется для хранения массовой информации. Несмотря на то, что для обеспечения надежности памятей выполняются тесты с высокой эффективностью, поддержание приемлемого подходящего выхода и качества по-прежнему является наиболее важной задачей. Для быстрого и эффективного тестирования динамической памяти предлагается встроенный механизм самотестирования.

Publisher:

Изд-во НАН РА

Format:

pdf

Identifier:

oai:arar.sci.am:267513

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան