Սխալ մը տեղի ունեցած է, զեկոյցը չէ ղրկուած։ Ստուգէ թէ, արդեօք տուեալները ճի՞շդ են եւ կրկին փորձէ։
Ներկայացուր նիւթին հետ կապուած խնդիրը: Microstructure and Residual Stress Measurement of Ag/Glass Thin Films Using In-Situ High-Temperature X-ray Diffraction