Օբյեկտ

Վերնագիր: An Approach for Scheduling Parallel and Serial Testing of Embedded IP Cores in Nanoscale SoCs

Publication Details:

"ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ" հանդեսը հիմնադրվել է 1944թ.: Լույս է տեսնում տարին 4 անգամ:

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ = Доклады НАН РА = Reports NAS RA

Date of publication:

2018

Volume:

118

Number:

1

ISSN:

0321-1339

Official URL:


Additional Information:

սեղմիր այստեղ կապին հետևելու համար

Other title:

Պլանավորման մոտեցում նանոչափական բյուրեղներում ներկառուցված նախագծման բլոկների զուգահեռ և հաջորդական թեստավորման համար / Գ. Է. Հարությունյան։ Подход к планированию параллельного и последовательного тестирования блоков проектирования в наномерных системах на кристалле / Г. Э. Арутюнян.

Contributor(s):

Պատ․ խմբ.՝ Վ. Հ․ Համբարձումյան (1944-1959) ; Մ․ Մ․ Ջրբաշյան (1960-1965) ; Ա․ Գ․ Նազարով (1966-1983) ; Պատ․ խմբ․ տեղակալ՝ Վ․ Հ․ Ղազարյան (1983-1986) ; Պատ․ խմբ․՝ Դ․ Մ․ Սեդրակյան (1987-1999) ; Գլխավոր խմբ․՝ Ս․ Ա․ Համբարձումյան (2000-2004) ; Վ․ Ս․ Զաքարյան (2005-2018) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (2018-)

Coverage:

26-32

Abstract:

Modern nanoscale chips are increasingly growing and involve more memories and other design blocks. As a result, the test process of such chips becomes essentially difficult. In this paper, an efficient approach is proposed which provides capability to create optimal test scenarios under the presence of limited resources available in SoC. Արդի նանոչափական բյուրեղները (չիպերը) աստիճանաբար մեծանում են՝ ընդգրկելով ավելի շատ հիշող սարքեր և այլ նախագծման բլոկներ։ Արդյունքում էապես դժվարանում է այդ բյուրեղների թեստավորման գործընթացը։ Այս աշխատանքում առաջարկված է մի արդյունավետ մեթոդ, որը հնարավորություն է տալիս ստեղծելու օպտիմալ թեստային սցենարներ՝ բյուրեղում սահմանափակ ռեսուրսների առկայության դեպքում։ С постоянным увеличением размеров и сложности наномерных систем на кристалле усложняется процесс их тестирования. Предлагается эффективный подход к планированию параллельного и последовательного тестирования блоков проектирования, который предоставляет возможность создания оптимальных тестовых сценариев в условиях жестких ограничений на используемые ресурсы.

Place of publishing:

Երևան

Publisher:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Date created:

2018-03-15

Format:

pdf

Identifier:

oai:arar.sci.am:46834

Call number:

АЖ 144

Digitization:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Օբյեկտի հավաքածուներ:

Վերջին անգամ ձևափոխված:

Oct 11, 2024

Մեր գրադարանում է սկսած:

Mar 5, 2020

Օբյեկտի բովանդակության հարվածների քանակ:

37

Օբյեկտի բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/52211

Ցույց տուր նկարագրությունը RDF ձևաչափով:

RDF

Ցույց տուր նկարագրությունը OAI-PMH ձևաչափով։

OAI-PMH

Հրատարակության անուն Ամսաթիվ
An Approach for Scheduling Parallel and Serial Testing of Embedded IP Cores in Nanoscale SoCs Oct 11, 2024

Օբյեկտի տեսակ՝

Նման

Այս էջը օգտագործում է 'cookie-ներ'։ Ավելի տեղեկատվություն