Ցոյց տուր կառուցուածքը

Հրապարակման մանրամասներ:

"ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ" հանդեսը հիմնադրվել է 1944թ.: Լույս է տեսնում տարին 4 անգամ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ = Доклады НАН РА = Reports NAS RA

Հրապարակման ամսաթիւ:

2018

Հատոր:

118

Համար:

1

ISSN:

0321-1339

Պաշտոնական URL:


Լրացուցիչ տեղեկութիւն:

կապին հետեւելուն համար սեղմէ հոս

Վերնագիր:

An Approach for Scheduling Parallel and Serial Testing of Embedded IP Cores in Nanoscale SoCs

Այլ վերնագիր:

Պլանավորման մոտեցում նանոչափական բյուրեղներում ներկառուցված նախագծման բլոկների զուգահեռ և հաջորդական թեստավորման համար / Գ. Է. Հարությունյան։ Подход к планированию параллельного и последовательного тестирования блоков проектирования в наномерных системах на кристалле / Г. Э. Арутюнян.

Ստեղծողը:

G. E. Harutyunyan

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ.՝ Վ. Հ․ Համբարձումյան (1944-1959) ; Մ․ Մ․ Ջրբաշյան (1960-1965) ; Ա․ Գ․ Նազարով (1966-1983) ; Պատ․ խմբ․ տեղակալ՝ Վ․ Հ․ Ղազարյան (1983-1986) ; Պատ․ խմբ․՝ Դ․ Մ․ Սեդրակյան (1987-1999) ; Գլխավոր խմբ․՝ Ս․ Ա․ Համբարձումյան (2000-2004) ; Վ․ Ս․ Զաքարյան (2005-2018) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (2018-)

Խորագիր:

Electronic computers; Computer science ; Mathematics ; Science

Չվերահսկուող բանալի բառեր:

hierarchical test ; system-on-chip ; test pattern ; test scenario ; pattern porting

Ծածկոյթ:

26-32

Ամփոփում:

Modern nanoscale chips are increasingly growing and involve more memories and other design blocks. As a result, the test process of such chips becomes essentially difficult. In this paper, an efficient approach is proposed which provides capability to create optimal test scenarios under the presence of limited resources available in SoC. Արդի նանոչափական բյուրեղները (չիպերը) աստիճանաբար մեծանում են՝ ընդգրկելով ավելի շատ հիշող սարքեր և այլ նախագծման բլոկներ։ Արդյունքում էապես դժվարանում է այդ բյուրեղների թեստավորման գործընթացը։ Այս աշխատանքում առաջարկված է մի արդյունավետ մեթոդ, որը հնարավորություն է տալիս ստեղծելու օպտիմալ թեստային սցենարներ՝ բյուրեղում սահմանափակ ռեսուրսների առկայության դեպքում։ С постоянным увеличением размеров и сложности наномерных систем на кристалле усложняется процесс их тестирования. Предлагается эффективный подход к планированию параллельного и последовательного тестирования блоков проектирования, который предоставляет возможность создания оптимальных тестовых сценариев в условиях жестких ограничений на используемые ресурсы.

Հրատարակութեան վայրը:

Երևան

Հրատարակիչ:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2018-03-15

Տեսակ:

Հոդված

Ձեւաչափ:

pdf

Դասիչ:

АЖ 144

Թուայնացում:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան