Object structure

Publication Details:

"ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ" հանդեսը հիմնադրվել է 1944թ.: Լույս է տեսնում տարին 4 անգամ:

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ = Доклады НАН РА = Reports NAS RA

Date of publication:

2018

Volume:

118

Number:

1

ISSN:

0321-1339

Official URL:


Additional Information:

click here to follow the link

Title:

An Approach for Scheduling Parallel and Serial Testing of Embedded IP Cores in Nanoscale SoCs

Other title:

Պլանավորման մոտեցում նանոչափական բյուրեղներում ներկառուցված նախագծման բլոկների զուգահեռ և հաջորդական թեստավորման համար / Գ. Է. Հարությունյան։ Подход к планированию параллельного и последовательного тестирования блоков проектирования в наномерных системах на кристалле / Г. Э. Арутюнян.

Creator:

G. E. Harutyunyan

Contributor(s):

Պատ․ խմբ.՝ Վ. Հ․ Համբարձումյան (1944-1959) ; Մ․ Մ․ Ջրբաշյան (1960-1965) ; Ա․ Գ․ Նազարով (1966-1983) ; Պատ․ խմբ․ տեղակալ՝ Վ․ Հ․ Ղազարյան (1983-1986) ; Պատ․ խմբ․՝ Դ․ Մ․ Սեդրակյան (1987-1999) ; Գլխավոր խմբ․՝ Ս․ Ա․ Համբարձումյան (2000-2004) ; Վ․ Ս․ Զաքարյան (2005-2018) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (2018-)

Subject:

Electronic computers; Computer science ; Mathematics ; Science

Uncontrolled Keywords:

hierarchical test ; system-on-chip ; test pattern ; test scenario ; pattern porting

Coverage:

26-32

Abstract:

Modern nanoscale chips are increasingly growing and involve more memories and other design blocks. As a result, the test process of such chips becomes essentially difficult. In this paper, an efficient approach is proposed which provides capability to create optimal test scenarios under the presence of limited resources available in SoC. Արդի նանոչափական բյուրեղները (չիպերը) աստիճանաբար մեծանում են՝ ընդգրկելով ավելի շատ հիշող սարքեր և այլ նախագծման բլոկներ։ Արդյունքում էապես դժվարանում է այդ բյուրեղների թեստավորման գործընթացը։ Այս աշխատանքում առաջարկված է մի արդյունավետ մեթոդ, որը հնարավորություն է տալիս ստեղծելու օպտիմալ թեստային սցենարներ՝ բյուրեղում սահմանափակ ռեսուրսների առկայության դեպքում։ С постоянным увеличением размеров и сложности наномерных систем на кристалле усложняется процесс их тестирования. Предлагается эффективный подход к планированию параллельного и последовательного тестирования блоков проектирования, который предоставляет возможность создания оптимальных тестовых сценариев в условиях жестких ограничений на используемые ресурсы.

Place of publishing:

Երևան

Publisher:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Date created:

2018-03-15

Type:

Հոդված

Format:

pdf

Call number:

АЖ 144

Digitization:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան