Հրապարակման մանրամասներ:

Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ և ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Հրապարակման ամսաթիվ:

2004

Հատոր:

57

Համար:

1

ISSN:

0002-306X

Պաշտոնական URL:

Այլ վերնագիր:

Փոքր թեքվածքների չափման համար նոր օպտիկա-մեխանիկական սարքի սկզբունքների մշակում; New optical-mechanical device development for small tilt measurements

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Ծածկույթ:

154-158

Ամփոփում:

На основе проведенных исследований оптических свойств ряда тонкослойных оптических систем разработано новое оптико-механическое устройство (наклономер) для измерения малых наклонов. Устройство основано на зондировании оптического «ближнего поля», образованного на поверхности оптического элемента в условиях полного внутреннего отражения. Лабораторные испытания показали, что наклономер обладает возможностями для достижения чувствительности измерений смещений и наклонов на уровне 5 нм и 10-3 угл.с. соответственно. Մի շարք նրբաշերտ օպտիկական համակարգերի օպտիկական հատկությունների հետազոտությունների հիման վրա մշակված է նոր օպտիկա-մեխանիկական սարք (թեքաչափ)՝ փոքր թեքվածքներ չափելու համար։ Սարքը հիմնված է լրիվ ներքին անդրադարձման պայմաններում օպտիկական էլեմենտի մակերեսի վրա առաջացած «մերձակա դաշտի» զոնդավորման սկզբունքի վրա։ Լաբորատոր փորձարկումները ցույց են տվել, որ թեքաչափը ռեալ հնարավորություններ ունի ապահովելու տեղաշարժերի և թեքվածքների չափման զգայնություններ՝ համապատասխանաբար 5 նմ և 10-3 անկյունային վայրկյան կարգի: To measure small inclinations (tilts), a new optical-mechanical device (inclinometer, tiltmeter) has been developed on the basis of investigations of optical properties of various thin-layer optical systems. The device operation is based upon the principle of probing the optical “near field” which is formed at optical element surface under total reflection conditions. As laboratory tests have shown, the tiltmeter is able to provide shift and tilt measurement sensitivities on the level of 5 nm and 10-3 sec. of arc. respectively.

Հրատարակության վայրը:

Երևան

Հրատարակիչ:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2004-04-15

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:32152

Դասիչ:

АЖ 413

Թվայնացում:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան