Ցույց տուր կառուցվածքը

Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիվ:

2008

Հատոր:

1

Համար:

2

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:


Վերնագիր:

THRESHOLD VOLTAGE MODEL OF SiC SHORT CHANNEL MOSFET’s WITH DEEP IMPURITY LEVELS AND TRAPS

Ստեղծողը:

V. V. Buniatyan ; V. M. Hayrapetyan

Խորագիր:

Physics ; Electronic transport in condensed matter

Ծածկույթ:

174-177

Ամփոփում:

A new model of short-channel SiC MOSFET’s threshold-voltage simulation is presented. The model is based on detailed analysis of the charge conservation law in the region bounded by the gate electrode and the semiconductor bulk.

Բովանդակություն:


Հրատարակության վայրը:


Թվայնացման հովանավորը:


Ստեղծման ամսաթիվը:

2008-08-28

Տեսակ:

Հոդված

Ձևաչափ:

pdf

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան