Publication Details:
Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Journal or Publication Title:
Date of publication:
Volume:
Number:
ISSN:
Official URL:
Title:
Некоторые вопросы оценки качества входного контроля цифровых интегральных схем
Other title:
Creator:
Contributor(s):
Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Subject:
Uncontrolled Keywords:
Հովսեփյան Մ. Մ. ; Hovsepyan M. M. ; входной контроль цифровых интегральных схем ; автоматизированная контрольно-измерительная аппаратура ; микроконтроллер ; микроконтроллерная система ; статистическая оптимизация микросхем ; «тест-маршрут» ; автоматизированное рабочее место
Coverage:
Abstract:
Проведено исследование системной методологии и задач статистической оптимизации микросхем. Дано обоснование концепции микроконтроллерной автоматизированной контрольно-измерительной аппаратуры входного контроля цифровых интегральных схем с последующей оценкой эффективности ее функционирования. Предложена модель процесса тестирования и получены зависимости вероятности обнаружения ошибок от параметров системы испытаний и продолжительности испытаний от оптимизации тестовых последовательностей. Միկրոսխեմաների համակարգչային մեթոդաբանության ու վիճակագրական օպտիմալացման խնդիրների ուսումնասիրման արդյունքում hիմնավորված է ԹԻՍ-ի մուտքային հսկման միկրոկոնտրոլերային ԱՀՉՀ-ի մոդելի մտահղացումը` գործունեության արդյունավետության գնահատականով: Մշակված է ԹԻՍ-ի տեստավորման գործընթացի մոդել: An investigation of system methodology and statistical optimization tasks of the microcircuits is carried out.The conception of the microcontroller tester for digital circuits input control is proved. A model of the digital circuit testing process is proposed. Dependences on debugging the system testing parameters and testing durability of optimization testing sequences are obtained.
Place of publishing:
Երևան
Publisher:
Date created:
Type:
Format:
Call number:
Digitization:
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան